描述：德國蔡司 ZEISS O-INSPECT 光學(xué)測量系統(tǒng)配備了一套多功能的照明系統(tǒng)。迴然不同的形狀、紋理和表面顏色可采取不同入射角的方式，讓邊緣顯得清晰可見。
出色的光學(xué)器件
視野范圍大良好的圖像質(zhì)量
德國蔡司 ZEISS O-INSPECT 光學(xué)測量系統(tǒng)來源于蔡司顯微鏡解決方率技術(shù)。與常規(guī)鏡頭相比，此鏡頭提供四倍更大觀察視野，使鏡頭周邊區(qū)域亦可確保出色的圖像質(zhì)量。優(yōu)點:減少測量時間并具有穩(wěn)定的精度。
更優(yōu)對比度ZEISS O-INSPECT照明系統(tǒng)
為了獲得精確的測量結(jié)果，需要高對比度的圖像。為此，德國蔡司 ZEISS O-INSPECT 光學(xué)測量系統(tǒng)配備了一套多功能的照明系統(tǒng)。迴然不同的形狀、紋理和表面顏色可采取不同入射角的方式，讓邊緣顯得清晰可見。
白光
蔡司Dotscan白光探頭可對工件進行非接觸式掃描。用于測量敏感、具反射性或低對比度的表面，這類表面難以使用其它光學(xué)探頭進行測顯。
